Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri

dc.contributor.authorÖzaslan, Doğan
dc.contributor.authorGüneş, Mustafa
dc.contributor.authorGümüş, Cebrail
dc.date.accessioned2025-01-06T17:24:01Z
dc.date.available2025-01-06T17:24:01Z
dc.date.issued2017
dc.departmentAdana Alparslan Türkeş Bilim ve Teknoloji Üniversitesi
dc.description.abstractSilar metodu kullanılarak 70 °C'de cam alttabanlar üzerine polikristal Cu2O ince filmleri elde edildi. XRD analizleri filmlerin kübik yapıda olduğunu gösterdi ve örgü parametreleri hesaplandı. Filmlerin yüzey morfolojisi alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu (FE-SEM) ile görüntülendi. Filmlerin optik özelliklerini belirlemek için UV/vis spektrofotometresi kullanılmıştır. Filmlerin oda sıcaklığındaki optik geçirgenlik (% T) değerleri 300-1100 nm dalga boyu aralığında belirlenmiştir. Yarıiletken Cu2O ince filmlerinin görünür bölgedeki optik geçirgenlik değerleri %50-70 olarak bulunmuştur. Filmlerin enerji bant aralığı değerleri (Eg) 2.53-2.62 eV bulundu
dc.identifier.endpage857
dc.identifier.issn2147-5881
dc.identifier.issue7
dc.identifier.startpage854
dc.identifier.trdizinid257222
dc.identifier.urihttps://search.trdizin.gov.tr/tr/yayin/detay/257222
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14669/1034
dc.identifier.volume23
dc.indekslendigikaynakTR-Dizin
dc.language.isotr
dc.relation.ispartofPamukkale Üniversitesi Mühendislik Bilimleri Dergisi
dc.relation.publicationcategoryMakale - Ulusal Hakemli Dergi - Kurum Öğretim Elemanı
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.snmzKA_20241211
dc.titleSılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri
dc.typeArticle

Dosyalar