Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri
dc.contributor.author | Özaslan, Doğan | |
dc.contributor.author | Güneş, Mustafa | |
dc.contributor.author | Gümüş, Cebrail | |
dc.date.accessioned | 2025-01-06T17:24:01Z | |
dc.date.available | 2025-01-06T17:24:01Z | |
dc.date.issued | 2017 | |
dc.department | Adana Alparslan Türkeş Bilim ve Teknoloji Üniversitesi | |
dc.description.abstract | Silar metodu kullanılarak 70 °C'de cam alttabanlar üzerine polikristal Cu2O ince filmleri elde edildi. XRD analizleri filmlerin kübik yapıda olduğunu gösterdi ve örgü parametreleri hesaplandı. Filmlerin yüzey morfolojisi alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu (FE-SEM) ile görüntülendi. Filmlerin optik özelliklerini belirlemek için UV/vis spektrofotometresi kullanılmıştır. Filmlerin oda sıcaklığındaki optik geçirgenlik (% T) değerleri 300-1100 nm dalga boyu aralığında belirlenmiştir. Yarıiletken Cu2O ince filmlerinin görünür bölgedeki optik geçirgenlik değerleri %50-70 olarak bulunmuştur. Filmlerin enerji bant aralığı değerleri (Eg) 2.53-2.62 eV bulundu | |
dc.identifier.endpage | 857 | |
dc.identifier.issn | 2147-5881 | |
dc.identifier.issue | 7 | |
dc.identifier.startpage | 854 | |
dc.identifier.trdizinid | 257222 | |
dc.identifier.uri | https://search.trdizin.gov.tr/tr/yayin/detay/257222 | |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.14669/1034 | |
dc.identifier.volume | 23 | |
dc.indekslendigikaynak | TR-Dizin | |
dc.language.iso | tr | |
dc.relation.ispartof | Pamukkale Üniversitesi Mühendislik Bilimleri Dergisi | |
dc.relation.publicationcategory | Makale - Ulusal Hakemli Dergi - Kurum Öğretim Elemanı | |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.snmz | KA_20241211 | |
dc.title | Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri | |
dc.type | Article |