Arşiv logosu
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
Arşiv logosu
  • Koleksiyonlar
  • Sistem İçeriği
  • Analiz
  • Talep/Soru
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
  1. Ana Sayfa
  2. Yazara Göre Listele

Yazar "Yilmaz, I. C." seçeneğine göre listele

Listeleniyor 1 - 1 / 1
Sayfa Başına Sonuç
Sıralama seçenekleri
  • [ X ]
    Öğe
    An Extremely Fast Pattern Based Line Detector
    (IEEE, 2017) Baykal, I. Cem; Yilmaz, I. C.
    This article describes a completely new, fully automatic line detector algorithm that takes advantage of look-up tables to recognize and fit straight line patterns. The algorithm first recognizes any possible 4x4 pixel line patterns among the binary edge pixels and then uses several small look up tables to decide whether the connected patterns form a line or not. It is designed for real time processing of high resolution images such as the ones used in computer vision applications. The algorithm's system on chip implementation is even cheaper and faster making it especially valuable for battery operated mobile robot applications. Based on the benchmarks, at the time of the writing, this algorithm is the fastest line detector in the literature.

| Adana Alparslan Türkeş Bilim ve Teknoloji Üniversitesi | Kütüphane | Rehber | OAI-PMH |

Bu site Creative Commons Alıntı-Gayri Ticari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile korunmaktadır.


Balcalı Mahallesi, Güney Kampüs, 10. Sokak, No: 1U, Sarıçam, Adana, TÜRKİYE
İçerikte herhangi bir hata görürseniz lütfen bize bildirin

DSpace 7.6.1, Powered by İdeal DSpace

DSpace yazılımı telif hakkı © 2002-2025 LYRASIS

  • Çerez Ayarları
  • Gizlilik Politikası
  • Son Kullanıcı Sözleşmesi
  • Geri Bildirim