Özaslan, DoğanGüneş, MustafaGümüş, Cebrail2025-01-062025-01-0620172147-5881https://search.trdizin.gov.tr/tr/yayin/detay/257222https://hdl.handle.net/20.500.14669/1034Silar metodu kullanılarak 70 °C'de cam alttabanlar üzerine polikristal Cu2O ince filmleri elde edildi. XRD analizleri filmlerin kübik yapıda olduğunu gösterdi ve örgü parametreleri hesaplandı. Filmlerin yüzey morfolojisi alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu (FE-SEM) ile görüntülendi. Filmlerin optik özelliklerini belirlemek için UV/vis spektrofotometresi kullanılmıştır. Filmlerin oda sıcaklığındaki optik geçirgenlik (% T) değerleri 300-1100 nm dalga boyu aralığında belirlenmiştir. Yarıiletken Cu2O ince filmlerinin görünür bölgedeki optik geçirgenlik değerleri %50-70 olarak bulunmuştur. Filmlerin enerji bant aralığı değerleri (Eg) 2.53-2.62 eV bulundutrinfo:eu-repo/semantics/openAccessSılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleriArticle857785425722223